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厚翼科技BRAINS3.0 縮減測試時間

  深耕於開發記憶體測試與修復技術的厚翼科技(HOY)日前發布最新「記憶體測試電路開發環境-BARINS3.0」,開放使用者自定義CellLibrary(元件庫)裡Cell的行為,讓BRAINS學習如果遇到使用者定義的Cell行為,決定記憶體時鐘由哪一個時鐘路徑提供,可以大幅降低使用者比對記憶體落在時鐘域(ClockDomain)的比對時間,並且提供最佳化的記憶體測試電路、大幅縮短測試時間,降低測試費用。

  深度學習是在人工智慧領域中的一個新興話題,也是成長快速的領域,而AI將引發記憶體測試需求,現已有許多晶片供應商對深度學習的興趣不斷增加,意味著系統單晶片(SoC)對於記憶體的需求量將會大增,進而帶動記憶體測試需求。因此,HOY最新「記憶體測試電路開發環境-BARINS3.0」內建數個已知GateCell的行為,在AutoIdentification後段,進入AutoClockTracing之前,BRAINS會開始建立所有Memory的Hierarchy並找出共同的TopHierarchy。對照其他記憶體測試開發工具而言找出共同的TopHierarchy在複雜的電路中會花費很長的執行時間,以BRAINS3.0而言,若是電路設計沒有大幅更改,之後就能直接使用第一次搜尋的結果,更可節省三倍的執行時間。

  此外,HOY對各式記憶體提供測試與修復解決方案,提供最佳化的記憶體測試電路,從產品設計源頭大幅提升測試良率,提高產業競爭力,先進的功能與友善的介面能大幅縮減測試成本與產品上市的時間,更能滿足製造商的成本和產品可靠性的需求。

  HOY至九月底前提供最先諮詢的前八位使用者免費BRAINS的體驗機會及完整的使用說明文件。聯繫方式:sales@hoy-tech.com。<摘錄工商>

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